【編號】2015-3
　　【名稱】一種電子束輻照聚四氟乙烯內(nèi)帶電測試系統(tǒng)
　　【公開（公告）號】CN204116468U
　　【公開（公告）日期】2015.01.21
　　【申請（專利權(quán)）人】中國人民解放軍軍械工程學(xué)院
　　【摘要】本實(shí)用新型公開了一種電子束輻照聚四氟乙烯內(nèi)帶電測試系統(tǒng)，涉及絕緣材料內(nèi)帶點(diǎn)測試技術(shù)領(lǐng)域。包括電子束輻照聚四氟乙烯帶電裝置和法拉第筒電量測量裝置，本實(shí)用新型可進(jìn)行模擬不同氣壓環(huán)境下電子對聚四氟乙烯內(nèi)帶電電量影響研究，可進(jìn)行聚四氟乙烯內(nèi)帶電的電荷隨時(shí)間變化的規(guī)律研究，可研究低氣壓環(huán)境下介質(zhì)材料的內(nèi)帶電程度與電子束輻射強(qiáng)度的關(guān)系，以及模擬電子束輻照條件下電子致使聚四氟乙烯高壓充放電等相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域研究工作。