【編號(hào)】2015-31
　　【名稱】一種PTFE微孔薄膜厚度測(cè)試方法
　　【公開（公告）號(hào)】CN104729397A
　　【公開（公告）日期】2015.06.24
　　【申請(qǐng)（專利權(quán)）人】廈門三維絲環(huán)保股份有限公司
　　【摘要】本發(fā)明公開一種PTFE微孔薄膜厚度測(cè)試方法，測(cè)試方法包括如下步驟：A、將PTFE薄膜平整無褶皺地重疊纏繞在厚度測(cè)試固定板上，纏繞n(n≥5)圈；B、將磁性金屬基體置于水平臺(tái)面上，疊加上纏好被測(cè)PTFE薄膜的厚度測(cè)試固定板，在膜與磁性金屬基體重合的上方再放置已知厚度的薄片；C、用連接涂層測(cè)厚儀的F1測(cè)頭測(cè)試?yán)p繞的PTFE膜加已知厚度的薄片的總厚度；D、計(jì)算PTFE膜厚度。采用本發(fā)明的測(cè)試方法，在測(cè)試過程中簡(jiǎn)單快速，測(cè)試精度高，同時(shí)由于測(cè)試儀器精簡(jiǎn)易攜，只要能找到水平的地方即可測(cè)試。