【編　號(hào)】2004-104
　　【篇　名】正充電聚四氟乙烯薄膜駐極體的電荷儲(chǔ)存及其動(dòng)態(tài)特性
　　【摘　要】研究了柵控恒壓正電暈充電的聚四氟乙烯(PTFE)薄膜駐極體的電荷儲(chǔ)存與輸運(yùn)特性.結(jié)果顯示在10 0℃以下的較低溫區(qū)和高于15 0℃,尤其是高于180℃的較高溫區(qū)內(nèi)慢再俘獲效應(yīng)控制著脫阱電荷的輸運(yùn);而在約10 0—15 0℃的溫區(qū)內(nèi)快再俘獲效應(yīng)占主導(dǎo)地位.初始表面電位的增加將導(dǎo)致電荷密度衰減加劇,通過合理控制充電參數(shù)和組合熱處理工藝,可使同樣儲(chǔ)存有足夠高的電荷密度的正負(fù)充電的PTFE薄膜駐極體既顯示出相近的電荷儲(chǔ)存壽命,又具有突出的電荷穩(wěn)定性。