【編　號(hào)】2004-87
　　【篇　名】恒流電暈充電對(duì)聚四氟乙烯多孔薄膜駐極體駐極態(tài)的影響
　　【摘　要】利用常溫下恒流和恒壓電暈充電、充電后的等溫表面電位衰減、熱刺激放電和掃描電鏡等實(shí)驗(yàn)手段研究了恒流和恒壓電暈充電技術(shù)對(duì)聚四氟乙烯多孔薄膜駐極體駐極態(tài)的影響.與恒壓電暈充電相比較,恒流電暈充電時(shí)由于流過(guò)薄膜的電流恒定,增加了注入電荷在多孔結(jié)構(gòu)厚度方向界面處的俘獲概率,使沉積電荷密度上升,改善了駐極體的儲(chǔ)電能力.然而,這些位于不同層深多孔界面處的俘獲電荷在這類功能膜儲(chǔ)存或使用過(guò)程中,經(jīng)外激發(fā)從脫阱位置以跳動(dòng)(hopping)模式輸運(yùn)至背電極的路徑相對(duì)縮短將導(dǎo)致脫阱電荷衰減較快