【編  號】124/續(xù)173
　　【題　名】聚四氟乙烯多孔薄膜駐極體的電荷儲存穩(wěn)定性
　　【關(guān)鍵詞】聚四氟乙烯 多孔薄膜 駐極體 電荷儲存穩(wěn)定性
　　【文　摘】利用在室溫和高溫下的柵控恒壓電暈充電，常溫電暈充電后經(jīng)不同溫度老化處理后的表面電位衰減測量，及開路熱刺激放電（Thermally Stimulated discharge,TSD0研究了正負(fù)充電后PTFE（Polytetrafuoroethylene)多孔薄膜駐極體的電荷儲存穩(wěn)定性。PTFE多孔膜，PTFE非多孔膜（Teflon PTFE)和FEP（Tetrafluoroethylene-hexa-fluoroprpylene Copolymer)非多孔膜（Teflon FEP)間的電荷儲存穩(wěn)定性的比較研究也已進(jìn)行。通過等溫退極化程序，對上述三種薄膜駐極體的電荷儲存壽命（有效時間常數(shù)）τ進(jìn)行了定量估算。結(jié)果指出：在有機(jī)駐極體材料中，對正負(fù)充電后兩種極性駐極體樣品的PTFE多孔薄膜駐極體均呈現(xiàn)最優(yōu)異的電荷儲存穩(wěn)定性，尤其是在高溫條件下。通過掃描電鏡（SEM）對這種新結(jié)構(gòu)的氟聚合物駐極體材料的突出電荷儲存能力和結(jié)構(gòu)根源也已初步討論。